X射线测定应力以【yǐ】衍射花样特征的【de】变化作为应变的量度。具有非破坏性【xìng】，可测小范围局部应力，可测表层应【yīng】力【lì】，可区别应力类型、测量时无需使材料处于【yú】无应力状【zhuàng】态等优点，但其测量【liàng】精确度【dù】受【shòu】组织结【jié】构【gòu】的【de】影响【xiǎng】较大，X射线【xiàn】也难以测定动【dòng】态【tài】瞬时应【yīng】力【lì】。

宏观应力的测定 宏观残留应力的方【fāng】向和大小【xiǎo】，直【zhí】接影响机【jī】器零件的使用寿命。利用测【cè】量【liàng】点阵【zhèn】平面在不同方向上的间距【jù】的变化，可计【jì】算出残留应力的大小和方向。
微观【guān】应力的测定 由衍射花【huā】样的形状【zhuàng】和强度【dù】可计算晶粒和微应力的大小。